[发明专利]中小口径柱形元件微小孔在位精密测量装置及方法有效
申请号: | 201710400530.9 | 申请日: | 2017-05-31 |
公开(公告)号: | CN107014333B | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 赵惠英;班新星;姜淳烨;顾亚文;张楚鹏;朱学亮;赵凌宇;董龙超 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B21/10 | 分类号: | G01B21/10;G01B21/20 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李宏德 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供一种中小口径柱形元件微小孔在位精密测量装置及方法。所述装置包括中小口径柱形元件微小孔加工装置和在位检测装置;所述方法利用中小口径柱形元件微小孔加工装置,作为被加工零件测量时的控制装置,在测量时对被加工零件进行夹持、旋转和移动,从而避免的二次夹装带来的误差和零件损伤;同时配合使用灵敏度高的力传感器作为信号反馈元件,在转台的转动和X向导轨副的移动下得到高的测量精度;采用气体静压导轨副X向导轨副的移动可实现微小孔直径大小的高精度测量;通过使用高精度气体静压转台,可实现微小孔圆度、圆柱度的高精度检测;通过数据的结合处理能够对检测数据进行二维、三维误差评定,提高了微小孔的加工效率和加工精度。 | ||
搜索关键词: | 中小 口径 元件 微小 在位 精密 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.中小口径柱形元件微小孔在位精密测量方法,其特征在于,基于中小口径柱形元件微小孔在位精密测量装置,包括中小口径柱形元件微小孔加工装置和在位检测装置;所述的中小口径柱形元件微小孔加工装置包括X向导轨副(1),转台(3),沿Z轴方向设置的主轴(12)和刀具(11),以及用于柱形元件(6)夹装的夹具(5);夹具(5)同轴固定在转台(3)上,转台(3)固定在X向导轨副(1)上;转台(3)用于带动柱形元件(6)在加工和测量时的Z向转动,X向导轨副(1)用于带动柱形元件(6)在加工和测量时的X向移动;所述的在位检测装置包括Z向导轨副,与主轴(12)轴向平行设置的分节气缸(9),以及依次连接在分节气缸(9)伸出端的力传感器(8)和检测球头(7);分节气缸(9)通过气缸固定座(10)与Z向导轨副连接;力传感器(8)的输出端连接用于检测数据采集和处理的数据采集系统(14);所述的方法包括以下步骤,步骤1,在中小口径柱形元件微小孔的加工过程中需要对微小孔进行测量时,升起刀具主轴(12),移动X向导轨副(1)横向移动,使检测球头(7)的Z向轴线与转台(3)回转中心重合;步骤2,启动分节气缸(9),伸出检测球头(7),并移动Z向导轨副使检测球头(7)位于待检柱形元件(6)的微小孔内;步骤3,移动X向导轨副(1)使检测球头(7)与柱形元件(6)微小孔的一侧孔壁相接触,采集此时检测球头(7)的X坐标位置,然后移动X向导轨副(1)至柱形元件(6)微小孔的另一侧孔壁,采集此时检测球头(7)的坐标位置,通过计算可得到X向导轨副(1)移动的距离,加上检测球头(7)直径即可得到柱形元件(6)微小孔的孔径大小;步骤4,移动X向导轨副(1)使检测球头(7)与柱形元件(6)微小孔的一侧孔壁相接触时,保持X向导轨副(1)不动,启动转台(3),同时开始采集数据,设置每转采集点的个数,通过数据采集系统(14)对数据进行处理,得到检测圆周的形状精度,即微小孔检测圆周的圆度;步骤5,移动Z向导轨副至柱形元件(6)微小孔的不同深度,通过重复步骤3和4两步骤,获得不同深度的孔径以及圆度,通过数据处理得到柱形元件(6)微小孔的圆柱度;步骤6,使用数据采集系统(14)对步骤(3)、步骤(4)和步骤(5)的测量结果进行数据处理,得到柱形元件(6)微小孔的二维或三维误差评定结果,完成中小口径柱形元件微小孔在位精密测量。
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