[发明专利]一种条形试样打磨的装置在审
| 申请号： | 201710400732.3 | 申请日： | 2017-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN107225501A | 公开（公告）日： | 2017-10-03 |
| 发明（设计）人： | 林建平;林紫雄;郑中华;陈毅龙 | 申请（专利权）人： | 厦门理工学院 |
| 主分类号： | B24B41/06 | 分类号： | B24B41/06;B24B49/00;G01N1/28 |
| 代理公司： | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)35222 | 代理人： | 郭福利,魏思凡 |
| 地址： | 361000 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种条形试样打磨的装置包括基座，试样设在所述基座上，所述基座至少包括第一基准面，试样相应所述第一基准面暴露第一加工面；第一基准块，所述第一基准块设在基座上，所述第一基准块包括第一校准面，所述第一基准块可以沿垂直第一校准面的方向移动，试样贴靠在所述第一校准面上；第二基准块；所述第二基准块设在基座上，所述第二基准块包括第二校准面，所述第二基准块可以沿垂直第二校准面的方向移动，试样贴靠在所述第二校准面上；压紧单元，用于固定试样、第一基准块与第二基准块的位置。通过第一校准块与第二校准块使得试样的两个面能够被准确定位，保证条形试样加工后的平整度与尺寸，使得条形试样的打磨尺寸能够精准控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 条形 试样 打磨 装置 | ||
【主权项】：
一种条形试样打磨的装置，其特征在于，包括：基座，试样设在所述基座上，所述基座至少包括第一基准面，试样相应所述第一基准面暴露第一加工面；第一基准块，所述第一基准块设在基座上，所述第一基准块包括第一校准面，所述第一基准块可以沿垂直第一校准面的方向移动，试样贴靠在所述第一校准面上；第二基准块；所述第二基准块设在基座上，所述第二基准块包括第二校准面，所述第二基准块可以沿垂直第二校准面的方向移动，试样贴靠在所述第二校准面上；压紧单元，用于固定试样、第一基准块与第二基准块的位置。
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