[发明专利]光学组件和3D测量设备有效

专利信息
申请号: 201710405943.6 申请日: 2017-06-01
公开(公告)号: CN107063124B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 周晓军;王行;盛赞;李朔;李骊;杨高峰 申请(专利权)人: 南京华捷艾米软件科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G02B27/09
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 李明
地址: 210012 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种光学组件和3D测量设备。所述光学组件适用于3D测量设备,所述光学组件包括光源单元、成像单元以及位于所述光源单元和所述成像单元之间的调整单元;所述光源单元包括多个光源,多个所述光源排列成多行多列,所述光源的出射光线垂直于所述光源单元出光侧的表面;所述调整单元包括多个调整透镜,每个所述调整透镜对应一个所述光源,所述调整透镜能够接收并调整与其所对应的所述光源所发出的出射光线,以使得所述出射光线调整为平行光线,所述成像单元用于接收并复制所述平行光线,以形成预设光学图像。本发明的光学组件,结构紧凑,厚度降低,从而降低了应用该光学组件的3D测量设备的厚度,使得3D测量设备的应用范围更加广泛。
搜索关键词: 光学 组件 测量 设备
【主权项】:
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