[发明专利]一种显示基板的测试方法及应用于显示设备的基板有效
| 申请号： | 201710406008.1 | 申请日： | 2017-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN107123384B | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 彭邦银 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 518006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种显示基板的测试方法及应用于显示设备的基板，其中该应用于显示设备的基板包括：基板本体，其一表面形成有多个组合显示基板，每个组合显示基板包括较大显示基板与较小显示基板，且该组合显示基板外围区域设有测试线路，该测试线路包括成膜保证区与非成膜保证区；其中，对应不同的显示基板的测试走线及测试跨线交叉密集区设于成膜保证区。本发明减少了因测试跨线和测试走线交叉布线造成的静电释放问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 测试 方法 应用于 设备 | ||
【主权项】：
一种应用于显示设备的基板，其特征在于，包括：基板本体，其一表面形成有多个矩阵排列的组合显示基板，每个所述组合显示基板包括相互组合的较大显示基板与较小显示基板，每个所述组合显示基板的外围区域设有测试线路，所述测试线路包括成膜保证区与非成膜保证区；其中，对应不同的所述较大显示基板和所述较小显示基板的测试走线及测试跨线，设置于所述测试线路，且所述测试跨线与所述测试走线的交叉密集区设于所述成膜保证区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司，未经深圳市华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710406008.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电压监测装置
- 下一篇：一种显示装置、显示面板及其驱动方法
