[发明专利]一种平面功率转换器件中使栅极自对准源极和漏极的方法有效
申请号: | 201710406579.5 | 申请日: | 2017-06-02 |
公开(公告)号: | CN107301953B | 公开(公告)日: | 2019-12-27 |
发明(设计)人: | 李亦衡;朱廷刚;朱友华;张葶葶;王强 | 申请(专利权)人: | 江苏能华微电子科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 32103 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 孙仿卫;王桦 |
地址: | 215600 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种平面功率转换器件中使栅极自对准源极和漏极的方法,包括在衬底上涂负性光刻胶,对负性光刻胶光刻显影,形成栅/源/漏极区;在负性光刻胶上、栅/源/漏极区内形成第一金属层;在第一金属层上涂正性光刻胶,对正性光刻胶光刻显影,在栅极区内、两侧的第一金属层上形成正性光刻胶填充;去除暴露的第一金属层;在负/正性光刻胶填充上、源/漏极区内形成第二金属层;去除位于负/正性光刻胶填充上的第二金属层,去除涂覆的负/正性光刻胶填充,栅极区内第一金属层为栅极金属层,源极、漏极内第二金属层为源极金属层以及漏极金属层。本发明消除栅极和源/漏极之间的不对准;改善了小型几何器件的加工余量;提高大直径晶圆器件的产量。 | ||
搜索关键词: | 一种 平面 功率 转换 器件 栅极 对准 方法 | ||
【主权项】:
1.一种平面功率转换器件中使栅极自对准源极和漏极的方法,其特征在于:由以下步骤组成:/n(1)、在衬底上涂覆负性光刻胶,通过栅极、源极以及漏极掩膜版对所述负性光刻胶进行光刻显影,在所述负性光刻胶上形成栅极区、源极区以及漏极区,具体为在所述衬底上形成栅极绝缘层,在所述栅极绝缘层上再涂覆所述负性光刻胶,所述栅极金属层、源极金属层以及漏极金属层形成在所述栅极绝缘层上;/n(2)、在所述负性光刻胶上、栅极区、源极区以及漏极区内形成第一金属层;/n(3)、在所述第一金属层上涂覆正性光刻胶,通过栅极保护掩膜版对所述正性光刻胶进行光刻显影,在所述栅极区内、栅极区两侧所述第一金属层上形成正性光刻胶填充;/n(4)、去除(2)中形成并暴露的第一金属层;/n(5)、在所述负性光刻胶上、正性光刻胶填充上、源极区以及漏极区内形成第二金属层;/n(6)、去除(5)中位于所述负性光刻胶上、正性光刻胶填充上的第二金属层,去除涂覆的所述负性光刻胶、正性光刻胶填充,所述栅极区内所述第一金属层为栅极金属层,所述源极、漏极内所述第二金属层为源极金属层以及漏极金属层。/n
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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