[发明专利]一种时间序列相关无效测量点去除方法及系统有效
申请号: | 201710409197.8 | 申请日: | 2017-06-02 |
公开(公告)号: | CN107063131B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 薛俊鹏;王齐明;季玉龙 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 王芸;熊晓果 |
地址: | 610065 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及三维测量领域,特别涉及一种时间序列相关无效三维测量点去除方法及系统。本发明所提供一种基于时间序列相关三维面形测量算法中不可靠点及无效点的自动删除方法,该方法不仅生成可靠的点云数据,同时大量无效点的去除降低了相关度计算等所耗费的时间。保证了基于时间序列相关三维面形测量方法具有的实时、高精度和测量三维面形可靠的特点。 | ||
搜索关键词: | 时间序列 去除 三维面形测量 三维测量 点云数据 自动删除 测量点 相关度 面形 算法 三维 测量 保证 | ||
【主权项】:
1.一种时间序列相关无效测量点去除方法,其特征在于,包括如下步骤:(1‑1)拍摄K幅编码投影中的被测物体图像,K为2以上自然数;(1‑2)利用公式
计算各个像素点多套时间序列相关测量的多相关度值Cmulti(u,v;t);其中,c(u,v;t)为被测物体图像与参考标定图像的单套时间序列相关测量的单相关度值,i是被测物体图像编号,其值从1到K;(1‑3)将各像素点相关度值Cmulti(u,v;t)与预设的阈值δcorr比较,如果像素点的相关度值低于δcorr,舍弃该像素点;其中,(u,v)是当前像素块中中心像素点坐标,t是标定图像序列号,其值从1到N。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川大学,未经四川大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710409197.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种减压干燥腔及真空减压干燥设备
- 下一篇:点火器用测量装置及测量方法