[发明专利]垂直型光电探测器及其制备方法有效
申请号: | 201710411754.X | 申请日: | 2017-06-05 |
公开(公告)号: | CN107425090B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 贾仁需;庞体强;栾苏珍;张玉明;汪钰成;刘银涛 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109;H01L31/18 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种垂直型光电探测器的制备方法,包括:S1:选取衬底;S2:在所述衬底上生长底电极层;S3:在所述底电极层上生长二硫化钼层;S4:在所述二硫化钼层上生长杂化钙钛矿层;S5:在所述杂化钙钛矿层上生长顶电极。本发明可以使光电探测器二维材料沟道的背景载流子的完全耗尽,显著降低了器件暗电流,提高器件在弱光下的探测性能;制备工艺简单,生产成本低,无需昂贵的仪器设备等优点;制备的光电探测器可在零栅压、低源漏偏压下工作,具有优异的低功耗特性,且结构简单、效率高、响应快、工作稳定、使用寿命长。 | ||
搜索关键词: | 垂直 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种垂直型光电探测器的制备方法,其特征在于,包括:S1:选取衬底;S2:在所述衬底上生长底电极层;S3:在所述底电极层上生长二硫化钼层,所述二硫化钼层为单层或多层薄膜材料,载流子类型为n型;S4:在所述二硫化钼层上生长杂化钙钛矿层,所述杂化钙钛矿层为弱p型,载流子浓度为1016cm‑3量级;S5:在所述杂化钙钛矿层上生长顶电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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