[发明专利]无导轨的绝对距离测量方法和系统在审

专利信息
申请号: 201710413162.1 申请日: 2017-06-05
公开(公告)号: CN107228623A 公开(公告)日: 2017-10-03
发明(设计)人: 方占军;林百科;曹士英;林弋戈;王强;赫明钊;孟飞;李烨 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 刘剑波
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种无导轨的绝对距离测量方法和系统,涉及激光测距领域。其中激光器输出具有不同中心波长和重复频率的第一和第二光脉冲序列,第一光学处理器件将第一光脉冲序列进行光谱扩展,以便使第一和第二光脉冲序列的光谱重叠;待测距装置使第一光脉冲序列分别通过目标镜和参考镜的反射,以生成目标脉冲序列和参考脉冲序列;光学干涉装置使第二光脉冲序列分别与目标脉冲序列和参考脉冲序列进行干涉,以生成目标干涉信号和参考干涉信号;信息处理装置利用目标干涉信号和参考干涉信号的相位谱线之差,得到目标臂和参考臂之间的距离差。本发明极大简化了测距系统复杂程度,使无导轨绝对测距方法可真正应用在实际测量场合。
搜索关键词: 导轨 绝对 距离 测量方法 系统
【主权项】:
一种无导轨的绝对距离测量系统,其特征在于,包括:激光器,用于输出光脉冲序列,其中光脉冲序列中包括具有不同的中心波长和重复频率的第一光脉冲序列和第二光脉冲序列;第一光学处理器件,用于从激光器输出的光脉冲序列中分离出第一光脉冲序列和第二光脉冲序列,将第一光脉冲序列进行光谱扩展,以便使第一光脉冲序列和第二光脉冲序列的光谱重叠;待测距装置,用于使光谱扩展后的第一光脉冲序列分别通过待测距装置中的目标镜和参考镜的反射,以生成目标脉冲序列和参考脉冲序列;光学干涉装置,用于使第二光脉冲序列分别与目标脉冲序列和参考脉冲序列进行干涉,以生成目标干涉信号和参考干涉信号;信息处理装置,用于采集目标干涉信号和参考干涉信号,并利用目标干涉信号和参考干涉信号的相位谱线之差,得到目标镜对应的目标臂和参考镜对应的参考臂之间的距离差。
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