[发明专利]一种非晶涂层残余应力检测方法有效
| 申请号： | 201710413943.0 | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN107036746B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 马国政;王海斗;陈书赢;何鹏飞;王译文;赵钦;刘喆;徐滨士 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军装甲兵工程学院 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100072*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种非晶涂层残余应力检测方法，包括：提供非晶涂层测试试样；在非晶涂层测试试样的待测量区域上制作点阵；获取待测量区域的第一形貌图像；对围绕待测量区域四周的材料进行逐层去除，并获取去除每层材料之后的待测量区域的形貌图像；根据第一形貌图像和去除每层材料之后的待测量区域的形貌图像，得到去除每层材料之后的待测量区域点阵中各点的位移量；根据点阵中各点的位移量，计算去除每层材料之后待测量区域的残余应力。通过逐层去除待测量区域四周的材料，释放残余应力，再计算去除周围材料后的待测量区域的残余应力，从而实现了非晶涂层内部的不同深度的残余应力的检测，进而测得非晶涂层内部的残余应力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 涂层 残余 应力 检测 方法 | ||
【主权项】：
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