[发明专利]基于F-P标准具的调频连续波激光测距方法有效
申请号: | 201710420926.X | 申请日: | 2017-06-07 |
公开(公告)号: | CN106997047B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 时光;范绪银;王文;常宗杰 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G01S17/32 | 分类号: | G01S17/32 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了基于F‑P标准具的调频连续波激光测距方法。可调谐激光器的调制线性度较差是限制调频连续波激光测距精度的主要因素。本发明采用的激光测距系统,包括可调谐激光器、第一耦合器、准直透镜、第二耦合器、准直透镜、测量干涉系统、F‑P标准具、马赫增德尔干涉系统、第一光电探测器、同步采样系统、上位机、第二光电探测器和第三光电探测器。本发明以F‑P标准具的输出信号为基准对与马赫增德尔干涉系统干涉得到的信号进行校正。本发明能够使得干涉信号区间内的峰极值个数保持稳定,提高测距精度。 | ||
搜索关键词: | 基于 标准 调频 连续 激光 测距 方法 | ||
【主权项】:
1.基于F‑P标准具的调频连续波激光测距方法,其特征在于:采用的基于F‑P标准具的调频连续波激光测距系统包括可调谐激光器、第一耦合器、准直透镜、第二耦合器、准直透镜、测量干涉系统、F‑P标准具、马赫增德尔干涉系统、第一光电探测器、同步采样系统、上位机、第二光电探测器和第三光电探测器;所述的可调谐激光器发射经光频线性调制的窄线宽调频连续波激光,该激光经过第一耦合器分为A0、B0两路,其中,B0路进入马赫增德尔干涉系统,A0路经准直透镜后由第二耦合器分为A1、A2两路,A1路进入测量干涉系统,A2路经过准直透镜进入F‑P标准具;所述的测量干涉系统和第一光电探测器对被测反射棱镜进行探测,产生干涉信号sig1;A2路激光与F‑P标准具发生干涉后,由第二光电探测器进行探测,得到干涉信号sig2;B0路激光与马赫增德尔干涉系统发生干涉,并由第三光电探测器进行探测,得到干涉信号sig3;同步采样系统对干涉信号sig1、sig2和sig3进行放大、滤波和同步采样,并将三路同步采样信号发送至上位机;该方法具体如下:步骤一、F‑P标准具的相邻两个F‑P峰值之间对应的sig3的极值数的理论值x=2C,其中,常数C=T2/T3,为sig2的周期T2与sig3的周期T3的比值;取一段长度为n个sig2周期的sig3信号片段,每个sig2周期内的sig3信号为一个sig3信号区间;步骤二、将1赋值给i;步骤三、第i个sig3信号区间内的极值数为yi,若yi大于x,则对第i个sig3信号区间内的信号进行点数为取整的三次样条插值,其中,t为sig2的周期,Δt为同步采样系统13的采样时间间隔;则第i个sig3信号区间新的采样时间间隔将第i个sig3信号区间中除第一个采样点外的新插入采样点向右水平移动,使得相邻两个新插入采样点的间距变为Δt,得到新的信号;此时,第i+1个sig3信号区间至第n个sig3信号区间内信号的相位均向右移动π(yi‑x);第i个sig3信号区间内信号的极值数yi变换为与x相等;若在第i个sig3信号区间内的极值数yi小于x,则对第i个sig3信号区间内的信号进行点数为取整的三次样条插值,此时第i个sig3信号区间新的采样点的时间间隔将第i个sig3信号区间中除第一个采样点外的新插入采样点向左水平移动,使得相邻两个新插入采样点的间距变为Δt,得到新的信号;此时,第i+1个sig3信号区间至第n个sig3信号区间内信号的相位向左移动π(yi‑x);第i个sig3信号区间内信号的极值数yi变换为与x相等;若第i个sig3信号区间内的极值数yi=x,则进入步骤四;步骤四、将i增加1,若i<n,则重复步骤三,否则进入步骤五;步骤五、以步骤二、三和四处理后的信号sig3作为采样时钟信号,对干涉信号sig1进行二次采样,得到重采样信号sig4;对重采样信号sig4进行时频变换即得到待测反射棱镜与测量干涉系统中参考环形器的光程差,进而得出被测目标的距离。
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