[发明专利]一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置有效

专利信息
申请号: 201710421591.3 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107121600B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 高原;吴双;林江川;刘廷军;赵刚;钟龙权;秦风;陈自东;严志洋;赵景涛;杨浩;王明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 詹永斌;沈强
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆,所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆,所述每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩,所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心,所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头;本发明设计巧妙,结构简单易于实现,使用方便且制作和维护费用较低,具有突出的实质性特点和显著进步,在天线测量与电磁波领域适合大规模推广应用。
搜索关键词: 一种 测试 天线 辐射 均匀 自动 装置
【主权项】:
一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置,其特征在于包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆,所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆,所述每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩,所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心,所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头,其装置的自动测试方法,包括以下步骤:在测试截面上设置有若干个用于测试的探头,其中中心探头与发射天线处于同一轴线,其他每一个探头沿着测试截面的周向可以移动,使得探头的测试位置变化,同时每一个探头能在测试截面上沿着径向伸缩使得探头的测试位置变化,所述测试截面可以沿着天线辐射方向移动从而调节测试截面与天线的距离,使得每一个探头对天线辐射场的不同位置进行测试。
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