[发明专利]将探针销与电子设备的位置对准的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710422629.9 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107490733B 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 张雨时;吴汉淦;叶俊成 申请(专利权)人: 先进科技新加坡有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/067
代理公司: 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 代理人: 艾晶
地址: 新加坡2*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种将探针销与电子设备的位置对准的方法包括:通过所述探针销在第一电子设备上在探针销相对于第一电子设备的同一位置重复多次地进行触点冲压以便在所述第一电子设备的铅垫上形成更深的第一探针标记;捕获所述第一电子设备的图像;使用所捕捉的图像确定所述第一探针标记在所述第一电子设备上的位置;使用所述第一探针标记的所述位置计算偏移量;使用所述偏移量调整后续多个电子设备与所述探针销之间的相对位置;以及将所述后续多个电子设备的铅垫与所述探针销接触以便测试所述电子设备。所述第一探针标记被配置成与当将所述后续多个电子设备的所述铅垫与所述探针销接触时形成的第二探针标记相比具有更高可见度,以便提高所计算的偏移量的准确度。
搜索关键词: 探针 电子设备 位置 对准 方法 装置
【主权项】:
一种将探针销与电子设备的位置对准的方法,其特征在于,所述方法包括:通过所述探针销在第一电子设备上进行触点冲压以便在所述第一电子设备的铅垫上形成第一探针标记;捕获所述第一电子设备的图像;使用所捕捉的图像确定所述第一探针标记在所述第一电子设备上的位置;使用所述第一探针标记的所述位置计算偏移量;使用所述偏移量调整后续多个电子设备与所述探针销之间的相对位置;以及将所述后续多个电子设备的铅垫与所述探针销接触以便测试所述电子设备,所述后续多个电子设备的所述铅垫与所述探针销的所述接触形成第二探针标记,其中,在所述触点冲压期间形成的所述第一探针标记被配置成与所述第二探针标记相比具有更高可见度。
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