[发明专利]一种测试LTE网络制式下的射频性能的方法

摘要

本发明公开了一种测试LTE网络制式下的射频性能的方法，属于LTE网络射频领域，包括安捷伦8960综合测试仪(2)、耦合板(5)、屏蔽箱(4)、PC电脑(1)和射频传输线(3)，利用QDART工具软件工具调用XTT配置文件进行整合改编，通过调用安捷伦8960综合测试仪的CW波形文件，实现LTE制式射频性能的非信令耦合测试。

主权项

1.一种测试LTE网络制式下的射频性能的方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：建立测试平台，测试平台包括安捷伦8960综合测试仪(2)、耦合板(5)、屏蔽箱(4)、PC电脑(1)和射频传输线(3)，PC电脑(1)中安装QDART工具软件，PC电脑(1)的USB接口通过USB转GPIB线与安捷伦8960综合测试仪的GPIB端口连接在一起，射频电缆线的一端连接安捷伦8960综合测试仪的RF端口，另一端连接屏蔽箱(4)的射频端口，耦合板(5)的射频端口与屏蔽箱(4)的射频端口电连接；步骤2：在PC电脑(1)中编写XTT配置文件，XTT配置文件中的内容包括PA设置项和测试对应项的限值设定；步骤3：将被测终端PDA放置在耦合板(5)上，关闭屏蔽箱(4)的门，在PC电脑上运行XTT配置文件会自动启动QDART工具软件，实现QDART工具软件与安捷伦8960综合测试仪进行通信；步骤4：采用非信令耦合方式进行测试，即，首先PC电脑(1)控制安捷伦8960综合测试仪发送测试用的电磁波信号，安捷伦8960综合测试仪通过射频传输线(3)将电磁波信号传输到耦合板(5)，耦合板(5)与终端PDA的天线端进行通信，终端PDA与PC电脑(1)通过USB端口连接，终端PDA接收信号或发送信号是由QDART工具软件控制终端PDA的内部电路来实现的，安捷伦8960综合测试仪通过耦合板实时接收或发射电磁信号，通过QDART工具软件测试完成后，会自动生成测试报告。