[发明专利]缺陷检查方法及其设备有效
| 申请号： | 201710425195.8 | 申请日： | 2017-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN107490580B | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 松本淳一 | 申请（专利权）人： | 本田技研工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王小东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及缺陷检查方法及其设备。缺陷检查设备(10)包括第一细长光源(14)以及其中形成有通孔(30)的机器底座(12)。在通孔(30)内设置有第二细长光源(16)和半反射镜(38)。来自第一细长光源(14)的第一细长光(L1)直接入射到待拍摄对象(20)(例如，汽车车身)上。另一方面，来自第二细长光源(16)的第二细长光(L2)在与第一细长光(L1)的前进方向垂直的方向上前进，此后被半反射镜(38)反射，从通孔(30)导出，并且入射到待拍摄对象(20)上。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检查 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
一种缺陷检查方法，所述缺陷检查方法通过相对于待拍摄对象(20)照射条纹照明并且基于从所述待拍摄对象(20)得到的图像来检查在所述待拍摄对象(20)上是否存在缺陷，所述缺陷检查方法包括以下步骤：从设置在机器底座(12)中的第一条纹照明照射单元(14)将第一条纹照明(L1)直接照射在所述待拍摄对象(20)上，同时由半反射镜(38)折射来自第二条纹照明照射单元(16)的第二条纹照明(L2)，并且将所述第二条纹照明(L2)穿过通孔(30)照射到所述待拍摄对象(20)上；以及由图像获取单元(40)透过所述半反射镜(38)来拍摄用所述第一条纹照明(L1)和所述第二条纹照明(L2)照射的所述待拍摄对象(20)；其中，在通过移位装置使所述机器底座(12)、所述第二条纹照明照射单元(16)、所述半反射镜(38)和所述图像获取单元(40)移位的同时，连续地执行照射和拍摄。
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