[发明专利]一种三维测量装置和方法在审
| 申请号： | 201710426766.X | 申请日： | 2017-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN106979758A | 公开（公告）日： | 2017-07-25 |
| 发明（设计）人： | 王拥军;忻向军;张琦;田清华;张丽佳;田凤;刘博;耿屹川;王帅 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)11413 | 代理人： | 马敬,项京 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明实施例提供了一种三维测量装置和方法，三维测量装置包括投射单元，包括依次排列的照明器、聚焦透镜组、正弦光栅片、成像透镜和光屏，聚焦透镜组和成像透镜均使所述正弦条纹图像清晰准确；照明器发射的光，依次经过聚焦透镜组、正弦光栅片和成像透镜生成正弦条纹图像；正弦条纹图像未经测量对象调制生成未调制光栅条纹图像，或者经测量对象调制后生成调制光栅条纹图像，未调制光栅条纹图像或者调制光栅条纹图像被投射至光屏；成像单元，采集投射在光屏上的未调制光栅条纹图像或者调制光栅条纹图像；处理单元，根据成像单元采集到的未调制光栅条纹图像和调制光栅条纹图像，计算测量对象的尺寸。应用本发明实施例能够提高三维测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 三维 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种三维测量装置，其特征在于，所述装置包括：投射单元，包括依次排列的照明器、聚焦透镜组、正弦光栅片、成像透镜和光屏，所述聚焦透镜组和所述成像透镜均使所述正弦条纹图像清晰准确；所述照明器发射的光，依次经过所述聚焦透镜组、所述正弦光栅片和所述成像透镜生成正弦条纹图像；所述正弦条纹图像未经测量对象调制生成未调制光栅条纹图像，或者经所述测量对象调制后生成调制光栅条纹图像，所述未调制光栅条纹图像或者所述调制光栅条纹图像被投射至光屏；成像单元，采集投射在所述光屏上的所述未调制光栅条纹图像或者所述调制光栅条纹图像；处理单元，根据所述成像单元采集到的所述未调制光栅条纹图像和所述调制光栅条纹图像，计算所述测量对象的尺寸。
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