[发明专利]膜厚控制系统及薄膜剖面图像的字符提取与膜厚采集方法有效

专利信息
申请号: 201710429716.7 申请日: 2017-05-28
公开(公告)号: CN107310173B 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 邹细勇;朱力;胡晓静 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: B29D7/01 分类号: B29D7/01;G05D5/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种膜厚控制系统及薄膜剖面图像的字符提取与膜厚采集方法,膜厚控制系统包括挤出单元、冷却成型单元、拉伸单元、测厚单元、监测控制单元和收卷单元,其中冷却成型单元内含刻印模块,监测控制单元内有数显设备、膜厚图像拾取模块、图像处理模块、控制模块、模头调节器和变频器。测厚单元检测薄膜厚度并将薄膜剖面图像传送给数显设备,并经膜厚图像拾取模块转送到图像处理模块,控制模块接收图像处理模块输出的标记有模头螺栓位置的薄膜厚度值集合后分别通过变频器和模头调节器来调节薄膜纵向和横向的厚度。本发明实时采集薄膜剖面图像信号,分析处理得到厚度参数,通过模头螺栓进行剖面的厚度调节,达到薄膜横向厚度均匀的目的,同时通过挤出速度的调节使薄膜纵向厚度保持一致。
搜索关键词: 控制系统 薄膜 剖面 图像 字符 提取 采集 方法
【主权项】:
1.一种薄膜剖面图像的字符提取方法,所处理的图像是以薄膜测厚仪输出并能显示在一显示器上的用以显示被检测薄膜的横向剖面厚度的图像,所述图像包括分别以不同颜色表示的一条膜厚曲线、坐标轴和与坐标轴平行的辅助线,以及用以标示所述膜厚曲线基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的字符,其特征在于,包括如下步骤:a1)检测并确保所述薄膜剖面图像为目标图像;预处理,根据所述薄膜剖面图像中的颜色特征及区域特征获取含有目标字符的第一ROI区域;a2)根据第一ROI区域内可能出现的字符分析构建字符的二值化特征模板库;a3)针对所获取的第一ROI区域,检测分离出单个字符,对每个字符进行特征提取后进行模板匹配,识别出单个字符;a4)将相邻单字符进行组合,对组合出的词组进行辨识,获取所述图像中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值。
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