[发明专利]一种基于螺栓自定位的膜厚监测方法

摘要

本发明公开了一种基于螺栓自定位的膜厚监测方法，由计算单元基于采集单元采集的厚度曲线数据计算曲线各点厚度值和各螺栓位置，判识单元检索和识别待处理螺栓，在调节单元对待处理螺栓进行温度调节后比较调节前后膜厚零偏差点的移动，并根据移动量对各螺栓估计位置进行调整。本发明通过选定一组螺栓进行厚度调节和反馈判识，实现对薄膜厚度的实时有效监测，准确的螺栓自定位为膜厚控制提供了依据，且自定位过程的调节动作量小。

主权项

1.一种基于螺栓自定位的膜厚监测方法，包括如下步骤：P1)采集单元从测厚仪获取薄膜剖面厚度曲线数据，计算单元计算出曲线上各点薄膜厚度，进行螺栓初始定位；P2)判识单元进行螺栓检索，选定一组相邻螺栓作为待处理螺栓，检索、记录两个螺栓之间厚度偏差为零的点的横坐标XP；同时，由调节单元通过执行机构对该两个螺栓进行按各自厚度偏差的比例控制，通过调节螺栓温度来改变挤出机唇口的开度；P3)等待比例控制完成，判识单元再次检索所述一组相邻螺栓之间的零偏差点，记其横坐标为XQ；P4)判识单元进行螺栓位置估计偏差的判断和调节，比较XQ和XP，若两者差值超过设定阈值，则继续比较判断，若XQ小于XP则将所有螺栓右移，否则将所有螺栓左移，之后更新螺栓定位位置集合；若XQ和XP两者差值在设定阈值范围内，则结束定位，输出各模头螺栓位置；P5)数据输出单元输出剖面各点厚度值，在厚度曲线上标记各模头螺栓位置，并在厚度值超出预先设置的范围时发出警示。