[发明专利]封装结构在审
申请号: | 201710432906.4 | 申请日: | 2017-06-09 |
公开(公告)号: | CN107895718A | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 邱铭彦;黄信杰;张兢夫 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/522;H01L23/528 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 冯志云,王芝艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 提供一种封装结构,包括成型化合物。封装结构亦包括具有芯片边缘的集成电路芯片位于成型化合物中。封装结构亦包括集成电路芯片与成型化合物下的钝化层。此外,封装结构包括钝化层中的再布线层。封装结构亦包括经由再布线层电性连接至集成电路芯片的第一凸块。第一凸块位于芯片边缘之内且沿着芯片边缘配置。封装结构亦包括经由再布线层电性连接至集成电路芯片的第二凸块。第二凸块位于芯片边缘之外且沿着芯片边缘配置。第一凸块与第二凸块相邻。第一凸块与芯片边缘分隔,且第二凸块与芯片边缘分隔。 | ||
搜索关键词: | 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种封装结构,包括:一成型化合物;一集成电路芯片位于该成型化合物中,其中该集成电路芯片具有一芯片边缘;一钝化层位于该集成电路芯片与该成型化合物下;一再布线层位于该钝化层中;以及多个第一凸块经由该再布线层电性连接至该集成电路芯片,其中该些第一凸块位于该芯片边缘之内且沿着该芯片边缘配置;以及多个第二凸块经由该再布线层电性连接至该集成电路芯片,其中该些第二凸块位于该芯片边缘之外且沿着该芯片边缘配置,该些第一凸块与该些第二凸块相邻,该些第一凸块与该芯片边缘分隔,且该些第二凸块与该芯片边缘分隔。
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