[发明专利]一种元器件温升的测试方法及其系统在审
| 申请号： | 201710437063.7 | 申请日： | 2017-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN109030970A | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 莫业良;王传瑞;胡建业;朱日真 | 申请（专利权）人： | 中国长城科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 官建红 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于元器件测试技术领域，提供了一种元器件温升的测试方法及其系统，方法包括：测试控制终端获取用户输入的测试参数；将测试参数发送至设备标识对应的温升测试装置；温升测试装置根据测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至测试控制终端；测试控制终端根据测试结果以及预设的温升分析规则，生成待测元器件的温升测试报告，并将温升测试报告输出给用户。本发明实施例通过测试控制终端将测试参数发送给测试标识对应的温升测试装置，温升测试装置自动执行温升测试并将获取得到的测试结果反馈给用户，解决了现有的温升测试方法，检测效率较低以及人工成本较大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 温升测试 测试控制终端 测试参数 元器件 温升 预设 发送 元器件测试 测试标识 人工成本 设备标识 温度采集 温升分析 自动执行 测试 反馈 输出 检测 | ||
【主权项】：
1.一种元器件温升的测试方法，应用于元器件温升的测试系统，其特征在于，所述元器件温升的测试系统包括测试控制终端以及至少一个温升测试装置；所述元器件温升的测试方法包括：所述测试控制终端获取用户输入的测试参数；其中，所述测试参数包括设备标识以及温升测试参数；所述测试控制终端将所述测试参数发送至所述设备标识对应的温升测试装置；所述温升测试装置根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至所述测试控制终端；所述测试控制终端根据所述测试结果以及预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告；所述测试控制终端将所述温升测试报告输出给所述用户。
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