[发明专利]基于栅线检测的单晶硅太阳能电池片表面缺陷检测方法

摘要

本发明提出了一种基于栅线检测的单晶硅太阳能电池片表面缺陷检测方法，其步骤如下首先，采用图像缩放和中值滤波对单晶硅太阳能电池片表面图像进行预处理；其次，提出一种栅线检测方法，用于删除单晶硅太阳能电池片表面图像中的主栅线和副栅线；随后，提出一种超像素分割和自适应阈值处理相结合的方法，用于在无栅线图像中检测缺陷区域，得到初始的检测结果图；最后，通过图像缩放对初始检测结果图进行后处理，得到最终的检测结果图。本发明不仅对单晶硅太阳能电池片表面图像的采集质量要求相对较低，而且在保持较高检测准确率的同时具有较快的检测速度，对提高单晶硅太阳能电池片的质检效率和出厂合格率具有重要意义。

主权项

基于栅线检测的单晶硅太阳能电池片表面缺陷检测方法，其特征在于，其步骤如下：一)采用图像缩放和中值滤波对单晶硅太阳能电池片表面图像进行预处理；二)通过栅线检测删除单晶硅太阳能电池片表面图像中的主栅线和副栅线；三)利用超像素分割和自适应阈值处理方法在无栅线图像中检测缺陷区域，得到初始检测结果图；四)通过图像缩放对初始检测结果图进行后处理，得到最终的检测结果图；所述通过栅线检测删除单晶硅太阳能电池片表面图像中的主栅线和副栅线的方法为：1)计算预处理后的图像I各行和列的灰度之和：SHx=Σy=1gI(x,y),x∈[1,k]---(3),]]>SLy=Σx=1kI(x,y),y∈[1,g]---(4);]]>其中，I(x,y)代表图像I中第x行、y列处像素的灰度值，SHx表示图像I第x行所有像素的灰度和，SLy表示图像I第y列所有像素的灰度和，k、g代表图像I的行数和列数；2)检测主栅线和副栅线的位置：ZX=ZX∪{x},SHx≥1kΣx=1kSHx,x∈[1,k]ZX,otherwise---(5),]]>ZY=ZY∪{y},SLy≥1gΣy=1gSLy,y∈[1,g]ZY,otherwise---(6);]]>其中，ZX表示图像I中主栅线位置所在的行坐标集合，ZY表示图像I中副栅线位置所在的列坐标集合；如果第x行的灰度和SHx大于等于所有行灰度和的平均值则第x行是主栅线坐在的行，此时，将这一行的坐标“x”纳入到集合ZX中；如果第y列的灰度和SLy大于等于所有行灰度和的平均值则第y列是副栅线坐在的列，此时，将这一列的坐标“y”纳入到集合ZY中；3)删除主栅线和副栅线：根据行坐标集合ZX中行坐标的指示，将对应的行从图像I中删除，实现删除主栅线；根据列坐标集合ZY中列坐标的指示，将对应的列从图像I中删除，实现删除副栅线；主栅线和副栅线删除之后的图像标记为图像I'，其大小为p×q，p、q均是正整数，且p＜k、q＜g。