[发明专利]一种用于确定干扰源位置的方法和装置在审
申请号: | 201710440597.5 | 申请日: | 2017-06-13 |
公开(公告)号: | CN107271953A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 刘奇;袁力;王玥;刘晔;刘烽;王娜;陈卯蒸 | 申请(专利权)人: | 中国科学院新疆天文台;中国科学院大学 |
主分类号: | G01S5/02 | 分类号: | G01S5/02 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司31002 | 代理人: | 邓琪 |
地址: | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码: | 新疆;65 |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种用于确定干扰源位置的方法和装置。根据本发明的方法包括以下步骤将测试天线对应的测试区域划分为多个测量扇区;根据测试天线和各个干扰源的位置信息,计算各个干扰源相对测试天线的距离;根据所述位置信息和所述距离信息,确定各个干扰源与测试天线的相对位置信息,其中,所述相对位置信息包括各个干扰源所处的测量扇区。本发明具有以下优点通过确定电波环境中各个干扰源所处的测量扇区,从而能够在复杂电波环境中针对各个干扰源电磁辐的影响提供直观和有效的分析。并且,可绘制各个干扰源的分布示意图,从而可有效确定各个干扰源的分布情况,为进一步评估各个干扰源电磁辐的影响提供技术支持。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 确定 干扰 位置 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种用于确定干扰源位置的方法,其中,在测试天线所处的电波环境中存在一个或多个干扰源,所述方法包括以下步骤:a将测试天线对应的测试区域划分为多个测量扇区;b根据测试天线和各个干扰源的位置信息,计算各个干扰源相对测试天线的距离;c根据所述位置信息和所述距离信息,确定各个干扰源与测试天线的相对位置信息,其中,所述相对位置信息包括各个干扰源所处的测量扇区。
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