[发明专利]一种忆阻器的Simulink模型建立方法在审

专利信息
申请号: 201710447945.1 申请日: 2017-06-14
公开(公告)号: CN107273610A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 卢智伟;董华锋;吴福根 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 罗满
地址: 510062 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种忆阻器的Simulink模型建立方法,根据忆阻器的氧空位预设初始浓度,以及掺杂区的氧空位实时浓度与施加电压的关系,建立掺杂区的氧空位实时浓度模型;基于P型半导体电阻率定义,根据氧空位实时浓度模型,计算出掺杂区的实时电阻率;根据实时电阻率、非掺杂区电阻率以及忆阻器的参数,分别计算出掺杂区实时电阻和非掺杂区实时电阻;根据掺杂区实时电阻和非掺杂区实时电阻,建立忆阻器的亿阻值模型;基于亿阻值模型,建立simulink模型。本申请通过建立掺杂区实时氧空位浓度模型,计算掺杂区实时电阻率,再基于掺杂区实时电阻率建立更贴合实际的忆阻器模型,使得建立的忆阻器Simulink模型的准确率较高。
搜索关键词: 一种 忆阻器 simulink 模型 建立 方法
【主权项】:
一种忆阻器的Simulink模型建立方法,其特征在于,包括:根据忆阻器的氧空位预设初始浓度,以及掺杂区的氧空位实时浓度与施加电压的关系,建立所述掺杂区的氧空位实时浓度模型;基于P型半导体电阻率定义,根据所述氧空位实时浓度模型,计算出所述掺杂区的实时电阻率;根据所述实时电阻率、非掺杂区电阻率以及所述忆阻器的参数,分别计算出掺杂区实时电阻和非掺杂区实时电阻;根据所述掺杂区实时电阻和所述非掺杂区实时电阻,建立所述忆阻器的亿阻值模型;基于所述亿阻值模型,建立simulink模型。
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