[发明专利]X射线发光断层成像的目标可行区提取方法有效
| 申请号： | 201710448648.9 | 申请日： | 2017-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN107411766B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 易黄建;曲璇;侯榆青;贺小伟;张海波;焦璞 | 申请（专利权）人： | 西北大学 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 西安长和专利代理有限公司 61227 | 代理人： | 黄伟洪;何畏 |
| 地址： | 710127 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于分子影像技术领域，公开了一种X射线发光断层成像的目标可行区提取方法，基于光传输理论和有限元方法，利用光学特性参数和解剖结构等先验信息，设计N组不同网格进行全域重建，基于N个网格重建结果的统计分析，根据区域重叠程度提取一组新的可行区域，将可行区域作为重建区域进行再一次目标重建；通过减小重建区域降低了问题的病态性，有效提高了X射线发光分子断层成像的重建结果，在分子影像、重建算法等领域有重要的应用价值。本发明缓解了光学成像逆向问题中的病态性，有效提高重建质量；也可用于生物发光断层成像(BLT)，荧光分子断层成像(FMT)以及其他光学分子成像领域。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 发光 断层 成像 目标 可行 提取 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线发光断层成像的目标可行区提取方法，其特征在于，所述X射线发光断层成像的目标可行区提取方法基于光传输和有限元，利用光学特性参数和解剖结构先验信息；N组不同网格进行全域重建，基于N个网格重建结果的统计分析；根据区域重叠程度提取一组新的可行区域，将可行区域作为重建区域进行再一次目标重建。
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