[发明专利]一种终端异常状态确定方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710450436.4 申请日: 2017-06-15
公开(公告)号: CN107197473B 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 周加宝;刘桦;吕凯 申请(专利权)人: 三星电子(中国)研发中心;三星电子株式会社
主分类号: H04W24/04 分类号: H04W24/04;H04L12/26;H04M1/725
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 谢安昆;宋志强
地址: 210012 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供了一种终端异常确定方法和装置,该方法包括:处理设备计算每个样本的特征向量的多元高斯分布的概率密度函数值;并根据所有样本的特征向量的多元高斯分布的概率密度函数值,以及样本的标记值确定状态异常阈值;将多元高斯分布的概率密度函数,以及确定的状态异常阈值发送给待测终端,使该待测终端获取自身的指标参数计算特征向量,并计算该特征向量对应的多元高斯分布的概率密度函数值,根据该多元高斯分布的概率密度函数值和状态异常阈值确定本终端是否处于异常状态。该方法能够及时、准确地监测出终端的异常状态。
搜索关键词: 一种 终端 异常 状态 确定 方法 装置
【主权项】:
一种终端异常确定方法,其特征在于,该方法包括:接收到M个处于正常状态的样本终端和N个处于异常状态的样本终端发送的指标参数,使用同一个样本终端的相邻两组指标参数对应的值的变化量计算特征向量,并针对该特征向量值作标记,组成一个样本;其中,针对每个特征向量值作的标记为计算该特征向量值的指标参数所对应的样本终端所处的状态;计算每个样本的特征向量的多元高斯分布的概率密度函数值;并根据所有样本的特征向量的多元高斯分布的概率密度函数值,以及样本的标记值确定状态异常阈值;将多元高斯分布的概率密度函数,以及确定的状态异常阈值发送给待测终端,使该待测终端获取自身的指标参数计算特征向量,并计算该特征向量对应的多元高斯分布的概率密度函数值,根据该多元高斯分布的概率密度函数值和状态异常阈值确定本终端是否处于异常状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子(中国)研发中心;三星电子株式会社,未经三星电子(中国)研发中心;三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710450436.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top