[发明专利]基于透射型相位梯度超表面的人工表面等离激元耦合器在审
申请号: | 201710451566.X | 申请日: | 2017-06-15 |
公开(公告)号: | CN107275791A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 马华;陈红雅;屈绍波;王甲富;李勇峰 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军空军工程大学 |
主分类号: | H01Q15/00 | 分类号: | H01Q15/00 |
代理公司: | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙)61223 | 代理人: | 俞晓明 |
地址: | 710051 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了基于透射型相位梯度超表面的人工表面等离激元耦合器,涉及人工表面等离激元技术领域,包括相位梯度超表面和方贴片阵列,所述相位梯度超表面位于所述方贴片阵列正上方,二者之间具有间隙。通过调节方贴片长度可调节其本征人工表面等离激元的色散关系,使得在一定带宽内,方贴片阵列上人工表面等离激元本征波矢近似等于受激态表面波的波矢。这样,可将相位梯度超表面产生的表面波谐振耦合到方贴片阵列上,最终耦合为宽带的本征态人工表面等离激元,并在方贴片阵列上低损耗长程传播,提高了传播波转化为人工表面等离激元的效率。该发明为设计和制作高性能的人工等离激元设备提供了技术途径。 | ||
搜索关键词: | 基于 透射 相位 梯度 表面 人工 离激元 耦合器 | ||
【主权项】:
一种基于透射型相位梯度超表面的人工表面等离激元耦合器,其特征在于,包括相位梯度超表面和方贴片阵列,所述相位梯度超表面位于所述方贴片阵列正上方,二者之间具有间隙;相位梯度超表面由超表面结构单元组成,每个结构单元由三层金属结构和两层介质组成,其中上下层金属为相互正交的金属栅结构,中间层为斜置的双箭头结构;方贴片阵列由金属方贴片、介质基板和金属背板三部分组成。
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