[发明专利]利用NaI(TI)闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法及设备有效
| 申请号： | 201710455265.4 | 申请日： | 2017-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN109143316B | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 李建伟;李德源;杨明明;杨彪;林海鹏;于伟跃;张凯;王勇;赵佳辉;李健;杨发涛;张文涛;张秀;杨甲桥;吕文强;赵迎喜;宋嘉涛;刘建忠 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T3/06 | 分类号： | G01T3/06 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 任晓航;王体浩 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： |
本发明属于辐射测量技术领域，具体涉及利用NaI(TI)闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法及设备，用 |
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| 搜索关键词： | 利用 nai ti 闪烁 降低 射线 干扰 中子 探测 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.利用NaI(TI)闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法，通过采用6LiI闪烁体的6LiI闪烁体探测器对混合辐射场中的中子射线进行探测时，在与所述6LiI闪烁体相连的第一比较电路中设置第一电压幅值甄别阈值，将所述6LiI闪烁体测到的低能γ射线的信号过滤掉，其特征是，为了解决高能γ射线对测量效果的影响，采用所述的利用NaI(TI)闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法，包括如下步骤：(S1)，在所述6LiI闪烁体附近设置一个采用NaI(TI)闪烁体的NaI(TI)闪烁体探测器；(S2)，在所述NaI(TI)闪烁体相连的比较电路中设置第二电压幅值甄别阈值，将所述NaI(TI)闪烁体测到的所述低能γ射线的信号过滤掉；(S3)，记录第一信号、第二信号；所述第一信号包括所述6LiI闪烁体所测到的所述中子射线和所述高能γ射线的计数率；所述第二信号为所述NaI(TI)闪烁体所测到的所述高能γ射线的计数率；(S4)，计算净中子计数率，对所述第二信号乘以修正系数，通过在所述第一信号中减去乘以所述修正系数后的所述第二信号得到所述净中子计数率。
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