[发明专利]识别物体表面点或区域的方法、光学传感器以及存储介质

摘要

识别物体表面点或区域的方法、光学传感器以及存储介质。针对特定光学测量来确定物体性质。一种识别具有特定测量性质的待测量的物体的表面点或区域(14、15)以用于利用光学传感器(10)对相应点或区域(14、15)进行光学测量的方法，光学传感器(10)提供限定的测量条件，测量条件至少关于为限定的空间关系的测量光的发射和反射测量光的接收。该方法包括：限定物体的关注点或区域(14、15)，针对期望的光学测量来确定限定的点或限定的区域(14、15)的光学性质，并基于该光学性质来导出物体信息。

主权项

一种识别具有特定测量性质的物体表面点或区域(14、15、24、25)以用于利用光学传感器(10)，特别是利用基于三角测量的条纹或图案投影光学传感器对相应点或区域(14、15、24、25)进行光学测量的方法，所述光学传感器(10)提供限定的测量条件，所述限定的测量条件至少关于为限定的空间关系的测量光(ID)的发射和反射测量光(IR)的接收，所述方法包括：·限定所述物体的关注点或区域(14、15、24、25)，·针对使用所述光学传感器(10)的特定光学测量，来确定与限定的所述点或限定的所述区域(14、15、24、25)的至少一部分的外观相关的表面性质，以及·基于所述表面性质，利用所述限定的测量条件来导出关于可测量性的物体信息，所述物体信息表示关于由于所述表面性质和所述测量条件而导致的对所述特定光学测量的预期影响的信息，其特征在于，通过以下步骤来执行对所述表面性质的确定·使用所述光学传感器(10)通过以下处理来对所述点或所述区域(14、15、24、25)进行光学预测量□使用能由所述光学传感器(10)发射的所述测量光(ID)，来照射所述点或所述区域(14、15、24、25)的至少一部分，□利用所述光学传感器(10)来捕获通过照射所述物体而导致的在所述物体处的至少一个照射(Lr、Li、LD、LR、21i、21r、22i、22r、30)的至少一个图像，以及□针对所述光学传感器(10)的所述测量条件关于位置和/或外观无歧义性，对所述至少一个照射(Lr、Li、LD、LR、21i、21r、22i、22r、30)进行分析，和/或·通过以下处理来对待测量的所述物体的数字模型(40)进行分析□根据所述物体相对于所述光学传感器(10)的取向，数字化地对准所述数字模型，以及□关于利用所述测量光(ID)在所述物体相对于所述光学传感器(10)的所述取向上的照射，基于所对准的模型来确定所述点或区域(14、15、24、25)的外观性质。