[发明专利]用于制造高速异质结双极晶体管的发射极的方法有效
申请号: | 201710457292.5 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN107527813B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | C.达尔;D.A.楚马科夫 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技德累斯顿有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L29/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 申屠伟进;杜荔南 |
地址: | 德国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于制造高速异质结双极晶体管的发射极的方法。实施例提供用于制造双极结型晶体管的方法。在第一步骤中提供叠层,叠层包括:半导体衬底,具有沟槽隔离;隔离层,布置在半导体衬底上,其中第一隔离层包括形成发射极窗口的凹槽;侧向间隔物,布置在发射极窗口的侧壁上;基极层,布置在半导体衬底上的发射极窗口中;和发射极层,布置在隔离层、侧向间隔物和基极层上。在第二步骤中,牺牲层被提供在发射极层上,由此过度填充由于发射极窗口而由发射极层形成的凹槽。在第三步骤中,牺牲层被选择性地去除直至发射极层,同时保持牺牲层的对发射极层的凹槽填充的部分。在第四步骤中,发射极层被选择性地去除直至隔离层,同时保持发射极层的填充的凹槽。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 高速 异质结 双极晶体管 发射极 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造双极结型晶体管的方法,所述方法包括:提供叠层,所述叠层包括:‑半导体衬底,具有沟槽隔离;‑隔离层,布置在半导体衬底上,其中第一隔离层包括形成发射极窗口的凹槽;‑侧向间隔物,布置在发射极窗口的侧壁上;‑基极层,布置在半导体衬底上的发射极窗口中;和‑发射极层,布置在隔离层、侧向间隔物和基极层上;在发射极层上提供牺牲层,由此过度填充由于发射极窗口而由发射极层形成的凹槽;选择性地去除牺牲层直至发射极层,同时保持牺牲层的对发射极层的凹槽填充的部分;以及选择性地去除发射极层直至隔离层,同时保持发射极层的填充的凹槽。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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