[发明专利]一种高品质因子的全介质超材料谐振装置有效

专利信息
申请号: 201710457954.9 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN107037507B 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: 洪治;隋传帅;李向军;郎婷婷;井绪峰;韩冰心 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00;H01P7/10
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 陈昱彤
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种高品质因子的全介质超材料谐振装置,包括基底和位于基底的上表面上的二维周期性介质谐振单元。基底由介质材料制作,每个介质谐振单元为横截面为矩形的介质条,介质条的长、宽和高满足以下条件:a≥2b,a≥2.5h,1.6a≤λ≤2.4a,其中,a、b、h分别表示介质条的长、宽、高,λ为谐振装置的谐振中心波长,介质谐振单元的介电常数大于基底的介电常数。在电磁波垂直于介质条的上表面入射且电场偏振方向垂直介质条的第一侧面的情况下,可产生Mie电、磁谐振,实现极高的Q值。
搜索关键词: 一种 品质 因子 介质 材料 谐振 装置
【主权项】:
1.一种高品质因子的全介质超材料谐振装置,其特征在于:包括基底和位于基底的上表面上的二维周期性介质谐振单元,所述基底由介质材料制作,每个所述介质谐振单元为横截面为矩形的介质条,所述介质条的长度、宽度和高度满足以下条件:a≥2b,a≥2.5h,1.6a≤λ≤2.4a,其中,a表示介质条的长度,b表示介质条的宽度,h表示介质条的高度,λ为所述谐振装置的谐振中心波长,所述介质谐振单元的介电常数大于基底的介电常数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量大学,未经中国计量大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710457954.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top