[发明专利]衬底处理装置及半导体器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201710459088.7 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN107863306B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 油谷幸则;桧山真;竹田刚;大桥直史 申请(专利权)人: 株式会社国际电气
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;C23C16/54
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 杨宏军;李文屿
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及衬底处理装置及半导体器件的制造方法。在将不同的处理进行重复从而对膜进行处理的方法中,存在半导体器件的生产率低的问题。提供一种技术,具有:处理衬底的处理容器,向处理容器供给气体的气体供给部,控制衬底的温度的温度控制部,和装置控制部,其以进行下述处理的方式进行控制:温度控制部将衬底维持在第一温度、并且气体供给部向处理容器供给气体,从而形成第一层的处理;及,温度控制部将衬底维持在不同于第一温度的第二温度、并且气体供给部向处理容器供给气体,从而形成不同于第一层的第二层的处理。通过本发明,即便在将不同的处理进行重复从而对膜进行处理的方法中,也能提高半导体器件的生产率。
搜索关键词: 衬底 处理 装置 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
一种衬底处理装置,具有:处理衬底的处理容器,向所述处理容器供给气体的气体供给部,控制所述衬底的温度的温度控制部,和装置控制部,所述装置控制部以进行下述处理的方式进行控制:所述温度控制部将所述衬底维持在第一温度、并且所述气体供给部向所述处理容器供给气体,从而形成第一层的处理;及,所述温度控制部将所述衬底维持在不同于所述第一温度的第二温度、并且所述气体供给部向所述处理容器供给气体,从而形成不同于所述第一层的第二层的处理。
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