[发明专利]衬底处理装置及半导体器件的制造方法有效
申请号: | 201710459088.7 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN107863306B | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 油谷幸则;桧山真;竹田刚;大桥直史 | 申请(专利权)人: | 株式会社国际电气 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;C23C16/54 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军;李文屿 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及衬底处理装置及半导体器件的制造方法。在将不同的处理进行重复从而对膜进行处理的方法中,存在半导体器件的生产率低的问题。提供一种技术,具有:处理衬底的处理容器,向处理容器供给气体的气体供给部,控制衬底的温度的温度控制部,和装置控制部,其以进行下述处理的方式进行控制:温度控制部将衬底维持在第一温度、并且气体供给部向处理容器供给气体,从而形成第一层的处理;及,温度控制部将衬底维持在不同于第一温度的第二温度、并且气体供给部向处理容器供给气体,从而形成不同于第一层的第二层的处理。通过本发明,即便在将不同的处理进行重复从而对膜进行处理的方法中,也能提高半导体器件的生产率。 | ||
搜索关键词: | 衬底 处理 装置 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种衬底处理装置,具有:处理衬底的处理容器,向所述处理容器供给气体的气体供给部,控制所述衬底的温度的温度控制部,和装置控制部,所述装置控制部以进行下述处理的方式进行控制:所述温度控制部将所述衬底维持在第一温度、并且所述气体供给部向所述处理容器供给气体,从而形成第一层的处理;及,所述温度控制部将所述衬底维持在不同于所述第一温度的第二温度、并且所述气体供给部向所述处理容器供给气体,从而形成不同于所述第一层的第二层的处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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