[发明专利]利用CeF3

摘要

本发明属于辐射测量技术领域，具体涉及利用CeF3闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法及设备，用6LiI闪烁体探测器对混合辐射场中的中子射线进行探测时，在与6LiI闪烁体相连的第一比较电路中设置第一电压幅值甄别阈值，将6LiI闪烁体测到的低能γ射线的信号过滤掉，为了解决高能γ射线对测量效果的影响，采用本发明的中子探测方法，包括如下步骤：(S1)，在6LiI闪烁体附近设置一个采用CeF3闪烁体的CeF3闪烁体探测器；(S2)，在CeF3闪烁体相连的比较电路中设置第二电压幅值甄别阈值；(S3)，记录采用6LiI闪烁体所测到的第一信号；记录采用CeF3闪烁体所测到的第二信号；(S4)，对第二信号乘以修正系数，通过在第一信号中减去乘以修正系数后的第二信号得到净中子计数率。

主权项

1.利用CeF3闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法，通过采用6LiI闪烁体的6LiI闪烁体探测器对混合辐射场中的中子射线进行探测时，在与所述6LiI闪烁体相连的第一比较电路中设置第一电压幅值甄别阈值，将所述6LiI闪烁体测到的低能γ射线的信号过滤掉，其特征是，为了解决高能γ射线对测量效果的影响，采用所述的利用CeF3闪烁体降低γ射线干扰的中子探测方法，包括如下步骤：(S1)，在所述6LiI闪烁体附近设置一个采用CeF3闪烁体的CeF3闪烁体探测器；(S2)，在所述CeF3闪烁体相连的比较电路中设置第二电压幅值甄别阈值，将所述CeF3闪烁体测到的所述低能γ射线的信号过滤掉；(S3)，记录第一信号、第二信号；所述第一信号包括所述6LiI闪烁体所测到的所述中子射线和所述高能γ射线的计数率；所述第二信号为所述CeF3闪烁体所测到的所述高能γ射线的计数率；(S4)，计算净中子计数率，对所述第二信号乘以修正系数，通过在所述第一信号中减去乘以所述修正系数后的所述第二信号得到所述净中子计数率。