[发明专利]AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710464683.X 申请日: 2017-06-19
公开(公告)号: CN107293625B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 刘斌;戴姜平;张荣;陶涛;谢自力;陈敦军;韩平;施毅;郑有炓 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/12;H01L33/24;H01L33/00
代理公司: 江苏斐多律师事务所 32332 代理人: 张佳妮
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件,其结构自下至上依次包括:一衬底;一生长在衬底上的GaN缓冲层;一生长在GaN缓冲层上的AlN插入层;一生长在AlN插入层上的AlxGa1‑xN层;并刻蚀形成贯穿AlxGa1‑xN层、AlN插入层,深至GaN缓冲层的纳米柱阵列;所述纳米柱阵列中,AlxGa1‑xN层的直径小于AlN插入层的直径。并公开了该AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件的制备方法。本发明利用纳米柱结构,释放异质外延薄膜中的应力,提高器件发光效率;通过改变阵列结构参数,调控光场分布,提高紫外光的抽取效率。采用优化的三层胶紫外软压印技术,可克服AlGaN外延片表面粗糙带来的缺陷,压印图形边缘平滑无锯齿,可实现大面积制备,且纳米柱阵列形状、直径大小可调,结构可转移。
搜索关键词: algan 异质结 纳米 阵列 发光 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件,其结构自下至上依次包括:一衬底;一生长在衬底上的GaN缓冲层;一生长在GaN缓冲层上的AlN插入层;一生长在AlN插入层上的AlxGa1‑xN层;并刻蚀形成贯穿AlxGa1‑xN层、AlN插入层,深至GaN缓冲层的纳米柱阵列;其特征在于:所述纳米柱阵列中,AlxGa1‑xN层的直径小于AlN插入层的直径。
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