[发明专利]一种晶圆级封装红外探测器的封装方法在审
申请号: | 201710466015.0 | 申请日: | 2017-06-19 |
公开(公告)号: | CN107134509A | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
发明(设计)人: | 王莹;曹友文 | 申请(专利权)人: | 合肥芯欣智能科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0203 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230000 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明涉及晶圆级封装红外探测器的封装方法,其包括以下步骤(1)、在硅窗上蒸镀好吸气材料并在真空条件下将硅窗与晶圆进行对准;(2)、在硅窗与晶圆对准后,在真空条件下对硅窗进行加热,激活所述吸气材料;(3)、所述吸气材料激活后,对硅窗进行施压键合,完成封装;(4)、封装后对晶圆进行切割,分割成单只晶圆级封装红外探测器;(5)、对单只晶圆级封装红外探测器进行测试,测试合格后即获得成品。该方法能实现红外探测器的晶圆级封装,且其对位精度高,生产效率高,产品质量稳定。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆级 封装 红外探测器 方法 | ||
【主权项】:
一种晶圆级封装红外探测器的封装方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)、在硅窗上蒸镀好吸气材料并在真空条件下将硅窗与晶圆进行对准;(2)、在硅窗与晶圆对准后,在真空条件下对硅窗进行加热,激活所述吸气材料;(3)、所述吸气材料激活后,对硅窗进行施压键合,完成封装;(4)、封装后对晶圆进行切割,分割成单只晶圆级封装红外探测器;(5)、对单只晶圆级封装红外探测器进行测试,测试合格后即获得成品。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的