[发明专利]方位角校准方法、装置、存储介质和计算机设备有效
| 申请号： | 201710466099.8 | 申请日： | 2017-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN107421523B | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 邱长平 | 申请（专利权）人： | 深圳市万普拉斯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C17/38 | 分类号： | G01C17/38 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种方位角校准方法、装置、存储介质和计算机设备。所述方法包括：获取磁传感器检测到的磁场矢量；根据磁场矢量和相应的磁场强度，获取磁场矢量相应的初始方位角；检测当前旋转角速度；根据当前旋转角速度确定补偿角；根据补偿角和初始方位角，进行方位角校准。可以根据获取的磁场矢量和相应的磁场强度，来获取初始方位角，在没有对磁场矢量进行详细分析的情况下，获取精准的初始方位角，提高了获取初始方位角的效率。还可以获取移动终端当前的旋转角速度，获取补偿角，通过补偿角和初始方位角来校准方位角。从而在获取精准的初始方位角后，校准方位角，进而在获取精准的初始方位角效率提高的情况下，提高校准方位角的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 方位角 校准 方法 装置 存储 介质 计算机 设备 | ||
【主权项】：
一种方位角校准方法，包括：获取磁传感器检测到的磁场矢量；根据所述磁场矢量和相应的磁场强度，获取所述磁场矢量相应的初始方位角；检测当前旋转角速度；根据所述当前旋转角速度确定补偿角；根据所述补偿角和所述初始方位角，进行方位角校准。
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