[发明专利]改善PERC高效电池片外观小白点的退火工艺有效
申请号: | 201710470048.2 | 申请日: | 2017-06-20 |
公开(公告)号: | CN107256907A | 公开(公告)日: | 2017-10-17 |
发明(设计)人: | 徐泽宇;孙铁囤;姚伟忠 | 申请(专利权)人: | 常州亿晶光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙)32258 | 代理人: | 郑云 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及太阳能电池片技术领域,尤其是一种改善PERC高效电池片外观小白点的退火工艺,该退火工艺包括以下步骤:a:将炉管温度调低为550℃,然后将硅片放入炉管内,随后通入5000±1000sccm氧气,与硅片表面杂质发生氧化反应;b:再向炉管内通入5000±1000sccm氮气进行吹扫,去除硅片表面杂质;c:将炉管内温度提升至700±20℃,然后通入1000sccm氮气用以保护硅片表面,避免二次污染;d:硅片出炉管后降温至550℃,本发明在常规退火工艺去水汽的基础上,能够再次去除硅片表面杂质,并更好的保护硅片表面。 | ||
搜索关键词: | 改善 perc 高效 电池 外观 白点 退火 工艺 | ||
【主权项】:
一种改善PERC高效电池片外观小白点的退火工艺,其特征在于:该退火工艺包括以下步骤:a:将炉管温度调低为550℃,然后将硅片放入炉管内,随后通入5000±1000sccm氧气,与硅片表面杂质发生氧化反应;b:再向炉管内通入5000±1000sccm氮气进行吹扫,去除硅片表面杂质;c:将炉管内温度提升至700±20℃,然后通入1000sccm氮气用以保护硅片表面,避免二次污染;d:硅片出炉管后降温至550℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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