[发明专利]外推法测雷达散射截面积有效
| 申请号： | 201710470620.5 | 申请日： | 2017-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN107192990B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 崔孝海;袁文泽;李勇;魏广宇;高小珣 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种外推法测雷达散射截面积的方法，包括：对发射源与被测目标体的位置进行对准，以使发射源正对被测目标体的被测位置；在发射源远离被测目标体的过程中，对应获取在多个测量位置下发射源的辐射功率或电磁波幅度，以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度；根据多个测量位置下发射源的辐射功率或电磁波幅度，以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度得到发射源和被测目标体随距离变化的雷达散射截面积测量曲线；根据雷达散射截面积测量曲线得到被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数；对函数求距离无穷远极限，得到被测目标体的雷达散射截面积。本发明具有如下优点：测量准确度高、适用范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 被测目标 发射源 雷达 电磁波 测量位置 辐射功率 距离变化 空间辐射 面积测量 外推法 准确度 被测位置 无穷远 正对 对准 测量 | ||
【主权项】：
1.一种外推法测雷达散射截面积的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：对发射源与被测目标体的位置进行对准，以使所述发射源正对所述被测目标体的被测位置，其中，所述发射源和所述被测目标体均设置在微波暗室中；S2：在所述发射源远离所述被测目标体的过程中，对应获取在多个测量位置下所述发射源的辐射功率或电磁波幅度，以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度；S3：根据所述多个测量位置下所述发射源的辐射功率或电磁波幅度，以及接收到的目标散射的空间辐射功率或电磁波幅度，得到所述被测目标体的雷达散射截面积随所述发射源和所述被测目标体之间的距离的变化而变化的雷达散射截面积测量曲线；S4：根据所述雷达散射截面积测量曲线得到所述被测目标体的雷达散射截面积随距离变化的函数；S5：对所述雷达散射截面积随距离变化的函数求距离无穷远极限，得到所述被测目标体的雷达散射截面积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院，未经中国计量科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710470620.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
