[发明专利]一种金、银和钯的合金键合线及其制备方法在审
申请号: | 201710473009.8 | 申请日: | 2017-06-15 |
公开(公告)号: | CN107316854A | 公开(公告)日: | 2017-11-03 |
发明(设计)人: | 李军;田鹏 | 申请(专利权)人: | 滕州晨晖电子集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/49 | 分类号: | H01L23/49;H01L21/48;C22C5/06;C22C1/02;C22F1/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 277500 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种金、银和钯的合金键合线,包括金元素、银元素、钯元素和杂质,金元素占总质量的质量分数为1‑5%,钯元素占总质量的质量分数为1‑15%,银元素占总质量的质量分数大于80%,余量为杂质。该键合线的制备方法如下步骤一,称取原料;步骤二,制备合金;步骤三,熔铸;步骤四,拉线;步骤五,清洗;步骤六,退火;步骤七,复绕。本发明通过银与钯预合金,金和纯银熔铸成棒材,再经过拉线、退火、清洗、复绕完成产品制备;本发明在制备过程中合理使用各种工艺参数,提高了银基合金键合线的加工性能,抗氧化和抗腐蚀性能大大提高,且本发明的键合线使用性能十分良好、稳定,可以满足半导体高端封装领域对键合线材的性能质量要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 合金 键合线 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种金、银和钯的合金键合线,其特征在于,包括金元素、银元素、钯元素和杂质,金元素占总质量的质量分数为1‑5%,钯元素占总质量的质量分数为1‑15%,银元素占总质量的质量分数大于80%,余量为杂质。
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