[发明专利]光学式转轴多自由度误差检测装置与方法有效
申请号: | 201710473144.2 | 申请日: | 2017-06-21 |
公开(公告)号: | CN108731595B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 觉文郁;谢东贤;许仲良;许家铭;张佑维;黄森亿;谢东兴 | 申请(专利权)人: | 虎尾科技大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 赵倩 |
地址: | 中国台湾云*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种光学式转轴多自由度误差检测装置与方法,该装置包括一标准试棒与一感测模块,当使用时安装在动力机械的转轴与旋转平台之间,该标准试棒设有一圆柱形透镜以及一位于端部的反光面,该感测模块的上、下层各沿着X、Y轴向该圆柱形透镜射出一道雷射光,该感测模块的底层朝该反光面伸出一道斜向的雷射光,在动力机械的转轴旋转产生误差后,该感测模块接收雷射光的变化得出该标准试棒的位移变化信号供计算单元处理,检测出转轴与旋转平台之间的各种误差,由于装置是以容易取得的组件组成,能大幅降低使用的成本而可运用于各种动力机械的精度检测。 | ||
搜索关键词: | 光学 转轴 自由度 误差 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光学式转轴多自由度误差检测装置,使用在具有X轴、Y轴以及Z轴的动力机械中,其特征在于,其构造包括:一标准试棒,为竖直的杆体并设有一圆柱形透镜,在所述标准试棒的底端形成一反光面;以及一与所述标准试棒配合的感测模块,设有一磁性座,在所述磁性座上结合一支架底座,在所述支架底座的周围以环绕设置的形态结合一传感器支架,在所述传感器支架的内侧之间形成一标准试棒量测区,以所述标准试棒量测区供所述标准试棒伸入,在所述传感器支架沿Z轴方向间隔设有一首层传感器组以及一次层传感器组,所述首层传感器组以可环绕所述标准试棒量测区的形态结合在所述传感器支架,包括一第一雷射头、一第二雷射头、一第一光点位移传感器以及一第二光点位移传感器,其中第一雷射头以及第一光点位移传感器结合在所述传感器支架对应X轴方向的相反两侧,第二雷射头以及第二光点位移传感器结合在所述传感器支架对应Y轴方向的相反两侧;所述次层传感器组以可环绕所述标准试棒量测区的形态结合在所述传感器支架,包括一第三雷射头、一第四雷射头、一第三光点位移传感器以及一第四光点位移传感器,其中第三雷射头以及第三光点位移传感器结合在所述传感器支架对应X轴方向的相反两侧,第四雷射头以及第四光点位移传感器结合在所述传感器支架对应Y轴方向的相反两侧;在所述支架底座顶面的相反两侧分别结合一斜向雷射头以及一反射光点位移传感器,所述斜向雷射头的自由端朝内且朝上延伸,所述反射光点位移传感器在朝向所述标准试棒量测区的一侧形成一接收面。
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