[发明专利]测量部分相干光空间关联结构的方法及系统有效
| 申请号： | 201710473501.5 | 申请日： | 2017-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN107255525B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 赵承良;卢兴园;朱新蕾;曾军;蔡阳健 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 冯瑞 |
| 地址： | 215000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量部分相干光空间关联结构的方法及系统，所述方法包括：待测光源引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换，记录光源传输至傅里叶平面处的光强；待测光源不引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换，记录光源传输至傅里叶平面处的光强；将有扰动、无扰动两种情况下记录的光强，分别进行反傅里叶变换和筛选阵列的过滤，将过滤后的结果相减，并反传输至光源平面，即可得到光源平面的交叉谱密度函数，此时，根据关联结构函数、交叉谱密度函数和源场光强的关系，即可得到光源的关联结构。本发明本发明可以同时得到待测光源空间关联结构完整的实部和虚部信息。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 部分 相干光 空间 关联 结构 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种测量部分相干光空间关联结构的方法，其特征在于，包括：记录扰动光强：给待测光源引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换，记录待测光源传输至傅里叶平面处的光强；记录非扰动光强：不给待测光源引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换，记录待测光源传输至傅里叶平面处的光强；计算机将有扰动、无扰动两种情况下记录的光强，分别进行反傅里叶变换、筛选阵列的过滤，将过滤后的结果相减，并反传输至光源平面，得到光源平面的交叉谱密度函数，根据关联结构函数、交叉谱密度函数和源场光强的关系，得到待测光源的关联结构。
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