[发明专利]一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法

摘要

本发明公开了一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法，包括如下步骤：(1)、对待测天线进行安装和场地校准，建立平面近场测试环境；(2)、对天线进行平面近场测量，得到N个频率的远场方向图i＝1～N；(3)、移动测试探头分别采集N个频率的+Y方向一维平面近场幅相分布数据和‑Y方向一维平面近场幅相分布数据(4)、计算每一个频率测量对应的探头沿近场扫描平面Y轴方向的扫频位移偏移量Δyⁱ；(5)、对远场方向图进行修正，得到修正本发明在保证扫描架连续运动的高效测量模式下，修正了由于扫描架连续运动导致的探头位移引起的天线辐射特性测试误差，提高了天线的测试精度。

主权项

1.一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法，其特征在于包括如下步骤：(1)、对待测天线进行安装和场地校准，建立平面近场测试环境，其中，平面近场扫描架由相互垂直的纵、横两轴构成，其中横轴固定安装，纵轴能够沿横轴方向平行移动，测试探头安装在纵轴上，可沿纵轴方向移动，扫描架纵轴与测试探头运动构成近场扫描平面，所述近场扫描平面与被测天线口面平行；天线本体坐标系以被测天线口面中心位置为坐标原点O，与扫描架横轴平行方向为坐标X轴，扫描架纵轴平行为坐标Y轴，与近场扫描平面垂直的天线口面法向轴为Z轴；(2)、采用单向扫描方法或者双向扫描方法对天线进行平面近场测量，获取预设N个频率的二维平面近场幅相分布数据，N≥1；对所得到的预设N个频率的二维平面近场幅相分布数据进行近远场变换，得到N个频率的远场方向图i＝1～N；(3)、将测试探头放置在平面近场扫描平面原点O处，移动测试探头分别采集N个频率的+Y方向一维平面近场幅相分布数据和‑Y方向一维平面近场幅相分布数据i＝1～N；(4)、根据每个频点的正向一维平面近场幅相分布数据和反向一维平面近场幅相分布数据计算每一个频率测量对应的探头沿近场扫描平面Y轴方向的扫频位移偏移量Δyⁱ,i＝1～N；(5)、采用步骤(4)计算得到的探头扫频位移偏移量Δyⁱ，对步骤(2)所得到的远场方向图进行修正，得到修正后的远场方向图i＝1～N。