[发明专利]阵列基板、显示装置以及传感器电极的检查方法有效
| 申请号： | 201710479813.7 | 申请日： | 2017-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN107544720B | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 福岛俊明 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 张永明 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种小型的阵列基板、显示装置以及传感器电极的检查方法。阵列基板具备：基板；传感器电极，配置于所述基板，用于检测静电电容的变化；以及引出布线，能够与所述传感器电极电连接，并且引出至所述基板的端部。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 显示装置 以及 传感器 电极 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种阵列基板，具备：基板；传感器电极，配置于所述基板，用于检测静电电容的变化；以及引出布线，能够与所述传感器电极电连接，并且引出至所述基板的端部。
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