[发明专利]一种电子系统多退化进程研究方法有效
| 申请号： | 201710482200.9 | 申请日： | 2017-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN107203677B | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 俞洋;杨智明;孙鹏;关玥;季雪松 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F119/02 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 杨立超 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种电子系统多退化进程研究方法，本发明涉及电子系统多退化进程研究方法。本发明的目的是为了解决现有实际研究中通常考虑系统中所有退化量分析其退化，导致计算量大，研究复杂，以及为了优化分析过程需要考虑多退化系统的主要退化量而忽略次要退化量，导致可靠性及寿命预测结果置信度低的问题。过程为：一、得到电路的传递函数；绘制出电路全部元件退化时的幅频特性曲线和相频特性曲线；得到电路全部元件退化时的电路增益、上下限截止频率和中心频率电路特征信息；二、进行灵敏度分析，按照灵敏度排序情况划分关键元件组合；三、选取关键元件组合，进行电路性能退化分析。本发明用于电路退化领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 系统 退化 进程 研究 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学，未经哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710482200.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
