[发明专利]一种光纤光栅测量部件的标定方法

摘要

本发明公开了一种光纤光栅测量部件的标定方法，其特征在于，包括以下步骤获取自由变形状态下测量光纤光栅的波长变化与温度之间的波长‑温度对应关系；确定测量光纤光栅进行位移标定时的标定温度，并根据所述波长‑温度对应关系确定所述测量光纤光栅在未变形时的初始温度波长；按照测量部件的受力方式对设有光纤光栅的基材的测力端施加位移，得到基材测力端的不同位移及对应的光纤光栅波长；将光纤光栅波长减去所述初始温度波长，得到消去温度影响后，仅由位移引起的测量光栅波长变化与位移间的对应关系Di(U)＝Δλi；利用可以固定并对所述测量部件施加变形的施力件校核测量部件的精度。

主权项

一种光纤光栅测量部件的标定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：获取自由变形状态下测量光纤光栅的波长变化与温度之间的波长‑温度对应关系；步骤2：确定测量光纤光栅进行位移标定时的标定温度，并根据所述波长‑温度对应关系确定所述测量光纤光栅在未变形时的初始温度波长；步骤3：按照测量部件的受力方式对设有光纤光栅的基材的测力端施加位移，得到基材测力端的不同位移及对应的光纤光栅波长；步骤4：将光纤光栅波长减去所述初始温度波长，得到消去温度影响后，仅由位移引起的测量光栅波长变化与位移间的对应关系Di(U)＝Δλi；步骤5：利用可以固定并对所述测量部件施加变形的施力件校核测量部件的精度：将所述测量部件固定到所述施力件中，对所述施力件施加设定荷载，从而使所述测量部件发生变形，并确定校核时的环境温度，测量光纤光栅的波长，利用步骤1中的所述波长‑温度关系和步骤4中的所述对应关系Di(U)＝Δλi得到与所述测量部件对应的测量位移Ui，利用所述施力件的弹性模量、泊松比、所述测量位移Ui，得到所述施力件所受到的对应的测量荷载，当所述设定荷载和测量荷载的相对误差小于设定误差时，所述测量部件的精度合格。