[发明专利]现场对密集管束直径及氧化膜厚度进行测量的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201710486398.8 申请日: 2017-06-23
公开(公告)号: CN107274941B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 王万金;李成业;江林志;任亮;吴瑞;伍晓勇;李子彦;王立德;邹德光;罗文广;偶建磊;吴伟;郑海川;段志强;孙志军 申请(专利权)人: 中国核动力研究设计院
主分类号: G21C17/017 分类号: G21C17/017
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 冯龙
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种现场对密集管束直径及氧化膜厚度进行测量的装置和方法,包括安装在测量台架上的若干个棒径测量单元和若干个氧化膜厚度测量单元,棒径测量单元均设置在同一水平面内,氧化膜厚度测量单元均设置在同一水平面内,每个棒径测量单元内部和每个氧化膜厚度测量单元内部均设置有供样管穿过的通道,且每个棒径测量单元的通道对应与其中一个氧化膜厚度测量单元的通道同轴。本发明通过将密集管束进行分类,能够在现场直接对密集管束直径及氧化膜厚度进行全行程任意位置的精确测量;在测量过程无人体直接接触,其通过传感器对直径及氧化膜厚度的微小变化进行测量,检测更加安全、高效、可靠;在某一测量单元发生故障时,仍然能完成测量工作。
搜索关键词: 现场 密集 管束 直径 氧化 厚度 进行 测量 装置 方法
【主权项】:
1.现场对密集管束直径及氧化膜厚度进行测量的装置,其特征在于,包括安装在测量台架上的若干个棒径测量单元和若干个氧化膜厚度测量单元,所述棒径测量单元均设置在同一水平面内,氧化膜厚度测量单元均设置在同一水平面内,每个棒径测量单元内部和每个氧化膜厚度测量单元内部均设置有供样管穿过的通道,且每个棒径测量单元的通道对应与其中一个氧化膜厚度测量单元的通道同轴;所述测量台架包括定位管(6)、主支撑板(5)、棒径测量单元定位板(8)、氧化膜测量单元定位板(3)和抓具定位板(9),定位管(6)的顶端与主支撑板(5)固定,从下至上棒径测量单元定位板(8)、氧化膜测量单元定位板(3)和抓具定位板(9)依次设置在主支撑板(5)上方且彼此固定,棒径测量单元均设置在棒径测量单元定位板(8)和氧化膜测量单元定位板(3)之间并与棒径测量单元固定,氧化膜厚度测量单元均设置在氧化膜测量单元定位板(3)和抓具定位板(9)之间并与氧化膜测量单元定位板(3)固定;所述棒径测量单元均包括安装座(25),安装座(25)固定在棒径测量单元(8)上,安装座(25)中设置有导向杆一(24),导向杆一(24)上套有移动块一(26)和移动块二(27),且移动块一(26)和移动块二(27)均能够在导向杆一(24)上沿着导向杆一(24)的轴线方向移动,导向杆一(24)上还套有弹簧一(12),弹簧一(12)设置在移动块一(26)或移动块二(27)和安装座(25)内壁之间,且弹簧一(12)能够在导向杆一(24)上沿着导向杆一(24)的轴线方向伸缩,移动块一(26)和移动块二(27)之间设置有棒径测量座(14),棒径测量座(14)穿过安装座(25)并与安装座(25)固定,棒径测量座(14)朝向移动块一(26)和移动块二(27)的外壁内凹形成缺口,且缺口与棒径测量座(14)的内腔连通,缺口中均设置有接触棒(13),接触棒(13)分别与对应的移动块一(26)或移动块二(27)固定,移动块一(26)或移动块二(27)上安装有位移传感器(11)。
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