[发明专利]处理方法、处理装置以及处理程序有效
| 申请号： | 201710491214.7 | 申请日： | 2017-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN107543836B | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 小中尚;姫田章宏;光永彻;长尾圭吾 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 高颖 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供处理方法、处理装置以及处理程序，能够通过较少次数的φ扫描以极像图的α无重复的方式连续地进行极图测定，从而能够进行高效的测定。在决定基于X射线衍射的极图测定的条件的处理方法中，包括如下步骤：接受衍射角2θ的输入的步骤；针对样本面内的旋转角φ决定各φ扫描中的入射X射线与x轴所成的角ω以及样本的摇摆倾斜角χ的步骤，以使得在所输入的2θ下的极图测定中，在二维的检测面230a中一次所能够检测到的散射矢量与样本面所成的角α的范围从α＝90°向α＝0°无重复地连续，反复进行ω以及χ的决定。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 方法 装置 以及 程序 | ||
【主权项】：
一种处理方法，决定基于X射线衍射的极图测定的条件，所述处理方法的特征在于，包括如下步骤：接受衍射角2θ的输入的步骤；和针对样本面内的旋转角φ决定各φ扫描中的入射X射线与x轴所成的角ω以及样本的摇摆倾斜角χ的步骤，以使得在所输入的所述2θ下的极图测定中，在二维的检测面中一次所能够检测到的散射矢量与样本面所成的角α的范围从α＝90°向α＝0°无重复地连续，在所述处理方法中，反复进行所述ω以及所述χ的决定。
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