[发明专利]用于操作坐标测量机的方法

摘要

公开了一种用于操作包括工件扫描测头的坐标测量机(CMM)的方法。该方法在扫描测头中提供两个不同的测量采样周期持续时间：第一较短的采样周期持续时间提供具有第一精度的较快测量，第二较长的采样周期持续时间提供具有第二(更好)精度的较慢测量。较短的采样持续时间可与较长的采样持续时间重复交错或交替，以便在CMM的正在进行的操作期间为运动控制目的提供足够的精度和响应时间。较长的采样持续时间可以提供高精度的测头测量，以与来自位于CMM的运动轴上的编码器(位于扫描测头外部)的位置坐标值相组合，以在期望的频率或按要求提供高精度的工件测量。测头测量定时子系统可以确定第一和第二采样持续时间的启动时间。

主权项

一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述CMM包括CMM控制系统、通过输出测头工件测量来测量工件表面的表面扫描测头、以及测头测量定时子系统，所述方法包括：操作所述CMM控制系统以在可预测时间输出测量同步触发信号；操作所述测头测量定时子系统以确定所述可预测时间；操作所述CMM以定义第一测头工件测量采样周期，所述第一测头工件测量采样周期具有比第二采样持续时间相对较短的第一采样持续时间，并且所述第一测头工件测量采样周期提供具有第一精度水平的较快类型的测头工件测量；操作所述CMM以定义第二测头工件测量采样周期，所述第二测头工件测量采样周期具有比第一采样持续时间相对较长的第二采样持续时间，并且所述第二测头工件测量采样周期提供具有比第一精度水平更好的第二精度水平的较慢类型的测头工件测量；以及操作所述CMM以执行包括第一测头工件测量采样周期和第二测头工件测量采样周期的一组测量操作，该组测量操作包括：a)在第一测量同步触发信号之前的且在接近于第一测量同步触发信号的低延迟时间窗口内的第一测量前置时间，启动第一测头工件测量采样周期的当前实例，其中所述第一测量同步触发信号发生在测量同步触发信号的下一可预测时间；b)操作所述CMM控制系统以在下一可预测时间输出第一测量同步触发信号，并锁存与第一测量同步触发信号相关联的第一组CMM位置坐标值；c)操作所述表面扫描测头以在第一输出时间输出与第一测头工件测量采样周期的当前实例相关联的较快类型的测头工件测量的当前实例，所述第一输出时间与第一测量同步触发信号相关联且在接近于第一测量同步触发信号的低延迟时间窗口内结束；d)在第二测量时间启动第二测头工件测量采样周期的当前实例，所述第二测量时间相对于其对应的操作测量同步触发信号来定义，其中所述对应的操作测量同步触发信号是第一测量同步触发信号或在第一测量同步触发信号之后发生的第二测量同步触发信号中之一；e)操作所述表面扫描测头以在第二输出时间输出与第二测头工件测量采样周期的当前实例相关联的较慢类型的测头工件测量的当前实例，所述第二输出时间与所述对应的操作测量同步触发信号相关联；以及，f)操作所述CMM控制系统，以将较慢类型的测头工件测量的当前实例与一组可适当组合的CMM位置坐标值相关联，该组可适当组合的CMM位置坐标值至少部分基于与所述对应的操作测量同步触发信号相关联的一组CMM位置坐标值来确定。