[发明专利]NB‑IoT设备的OTA测试系统和方法在审
申请号: | 201710495407.X | 申请日: | 2017-06-26 |
公开(公告)号: | CN107154825A | 公开(公告)日: | 2017-09-12 |
发明(设计)人: | 吕文晶;陈涛;李雨翔;张志华 | 申请(专利权)人: | 北京中科国技信息系统有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/00;H04B17/11;H04B17/21 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 赵囡囡,褚敏 |
地址: | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种NB‑IoT设备的OTA测试系统和方法。其中,该系统包括暗室;转台,设置在暗室内,用于放置待测设备,待测设备为基于蜂窝网的窄带物联网设备;环形天线支撑架,垂直设置在暗室内,环形天线支撑架上分布着多个天线;控制终端;以及综测仪,与待测设备和控制终端连接,用于在控制终端的控制下测量待测设备的发射性能和接收性能。本发明解决了现有技术中还没有针对NB‑IoT设备的OTA测试系统的技术问题。 | ||
搜索关键词: | nb iot 设备 ota 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种NB‑IoT设备的OTA测试系统,其特征在于,包括:暗室;转台,设置在所述暗室内,用于放置待测设备,所述待测设备为基于蜂窝网的窄带物联网设备;环形天线支撑架,垂直设置在所述暗室内且围绕所述转台设置,所述环形天线支撑架上分布着多个天线;控制终端;以及综测仪,与所述待测设备和所述控制终端连接,用于在所述控制终端的控制下测量所述待测设备的发射性能和接收性能。
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