[发明专利]一种配电器整机加速贮存试验方法及寿命评估方法在审
| 申请号： | 201710495423.9 | 申请日： | 2017-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN107300649A | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 任鹏;李宝玉;陈文辉;陈津虎;马晓东;贾生伟;张喆;白璐;胡彦平;朱曦全 | 申请（专利权）人： | 北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;北京航天自动控制研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种配电器整机加速贮存试验方法及寿命评估方法，配电器加速贮存试验方法，包括基于所述配电器整机的温度循环加速贮存试验剖面图，对所述配电器整机进行加速贮存试验。本发明提供的配电器加速贮存试验方法，基于温度循环试验剖面，适用于配电器类产品寿命期内规定的库房贮存环境条件，可以在较短的时间内验证配电器类产品贮存寿命，并激发贮存薄弱环节，为配电器类产品研制及定型提供试验方法与评估方法，为验证配电器类产品的贮存寿命提供支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 配电 整机 加速 贮存 试验 方法 寿命 评估 | ||
【主权项】：
一种配电器整机加速贮存试验方法，其特征在于，包括：基于所述配电器整机的温度循环加速贮存试验剖面图，对所述配电器整机进行加速贮存试验。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;北京航天自动控制研究所，未经北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院;北京航天自动控制研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710495423.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：变压器绝缘电阻、吸收比模拟实训装置
- 下一篇：一种间歇寿命试验系统和方法
