[发明专利]一种批量测试抗静电基座设计在审
| 申请号： | 201710499528.1 | 申请日： | 2017-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN109142800A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 陆宇 | 申请（专利权）人： | 上海卓弘微系统科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201399 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它，可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下，将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型，机械模型，TLP模型等各种静电检测终端。可排除测试过程中环境的光，热，静电等因素，有效的固定样品，保持测试的统一性。 | ||
| 搜索关键词： | 抗静电 测试 静电测试系统 测试过程 测试环境 测试基座 待测元件 固定样品 恒温条件 环境因素 基座设计 机械模型 静电检测 批量测试 人体模型 样品静电 静电 可控制 终端 引入 统一 | ||
【主权项】：
1.一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座，其特征在于：可调节，随意组合适应不同测试标准数量要求的基座连接结构。
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