[发明专利]一种线性渐变滤光片的光谱特征参数测试方法

摘要

本发明涉及一种线性渐变滤光片的光谱特征参数测试方法,属于滤光片检测技术领域。首先搭建滤光片透过率测试系统；利用光谱仪测量平行光源的辐照度；利用光谱仪测量光源经线性渐变滤光片出射光的辐照度，经数据处理得到光谱透过率曲线，拟合得到通带的中心波长、半宽高等参数；调节微动位移平台，对线性渐变滤光片的不同测量点进行测试；根据不同测量点的中心波长，拟合得到滤光片的线性色散系数。本发明方法使用的实验装置简单、操作方便、测量精度高、动态测量范围大、光谱测量范围广。

主权项

一种线性渐变滤光片光谱特征参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将一个光源设置在平行光管的一侧，组成一个平行光源，在平行光管的另一侧设置一个微动位移平台，设置一个光谱仪，光谱仪的光学探头置于微动位移平台的另一侧；(2)开启光源，利用光谱仪，采集上述平行光源的辐照度E0(λ)，其中λ为光源波长；(3)将待测线性渐变滤光片安装在微动位移平台，利用光谱仪，再次采集平行光源经待测线性渐变滤光片透射后的辐照度E(λ，xi)，其中xi为待测线性渐变滤光片的测量点位置，使微动位移平台在垂直于平行光管的方向上、下移动，得到待测线性渐变滤光片的不同测量点的辐照度E(λ，x)；(4)利用下式，计算待测线性渐变滤光片在每个测量点的光谱透过率，得到光谱透过率曲线τ(λ，x)：τ(λ,x)=E(λ,x)E0(λ)]]>(5)根据上述光谱透过率曲线τ(λ，x)，利用下式，拟合得到待测线性渐变滤光片的中心波长λc(x)和半高宽Δλ(x)：τ(λ,x)=τc(x)exp[-(4ln2)(λ-λc(x))2Δλ(x)2],]]>(6)根据上述中心波长λc(x)，利用下式，通过线性拟合得到待测线性渐变滤光片的线性色散系数k0：λc(x)＝k0x+b0其中，b0为待测线性渐变滤光片在起始测量点的中心波长。